Fluorescencyjna analiza rentgenowska (z ang. XRF) to metoda analityczna, polegająca na pomiarze emisji charakterystycznego „wtórnego” (lub fluorescencyjnego) promieniowania X z próbki wzbudzonej przez naświetlanie promieniowaniem rentgenowskim. Zjawisko to jest szeroko stosowane w analizie elementarnej i analizie chemicznej.
Urządzenie umożliwia badanie próbek ciekłych i stałych bez mineralizacji. Mierzy pierwiastki w zakresie od sodu do uranu, w stężeniu od 50 ppm do 100%.
Zastosowanie:
W naszym laboratorium jest to jedno z podstawowych urządzeń badawczych. praktycznie każda próbka o nieznanym składzie trafia najpierw na badanie XRF w celu określenia składu pierwiastkowego. Stosujemy ją szczególnie w badaniach metali, szkła, ceramiki, paliw i materiałów budowlanych, a także w badaniach geochemicznych, kryminalistycznych, archeologicznych.
